nanoSAQLA搭载Auto sampleAS50,最多可连续自动测量50个样品。1个样品的测量时间约1分钟,高速且测量过程中可追加样品。操作简便,作业时间短。玻璃一次性样品池可对应有机溶媒。
YINGCHAOLIANSAIXIAZHUXINXI
nanoSAQLADETEDIAN
•1TAIJIKEQINGSONGLIANXUCELIANG5GEYANGPINWUautosampleYEKECELIANGFUZADEDUOGEYANGPINKEGAIBIANGEYANGPINDETIAOJIANJINXINGCELIANG。
•CONGXIBODAONONGHOUDEDUIYING
•BIAOZHUNCELIANGSHIJIAN1FENZHONG,GAOSUCELIANGZIDONGDIAOZHENGCONGNONGHOUXINGDAOXIBOXINGYANGPINDEZUISHIWEIZHI,SHIXIANYUE1FENZHONGDEGAOSUCELIANG
•DAZAIJIANDANCELIANGGONGNENG(DIANJI1CIJIKEKAISHICELIANG)WURENHEFUZACAOZUO,RUANJIANJIANDANYIDONG
•NEIZHIFEIJINZIXINGYANGPINCHIDANYUANKUAI,WUFENZHUJIAZAWUGEYANGPINCHIDULICUNZAI,WUXUDANXINWURANWENTI
•DAZAIWENDUJIETIGONGNENGKEQINGSONGJINXINGWENDUSHEDING
AS50DETEDIAN
•ZUIDUOLIANXUCELIANG50GEYANGPIN
•CELIANGGUOCHENGZHONGKEZHUIJIAYANGPIN
•YANGPINSHEZHIJIANDAN·FANGBIAN(KEZHENGTITIHUAN50GEYANGPIN)
•YOUJIRONGMEIDUIYING(BOLIYICIXINGYANGPINCHI)
•YANGPINRONGLIANG ZUIXIAO0.4ml
CELIANGFANWEI(LILUNZHI)
•LIJING 0.6nm~10μm
•NONGDUFANWEI 0.00001~40%
•WENDUFANWEI 0~90℃*
SHIYANG
型号 | 多检体NANO粒径测量系统 |
---|---|
测量原理 | 动态光散射法(光子相关法) |
光源 | 高出力半导体激光(660nm、70mW)*1 |
检出器 | 高感光度APD |
连续测量 | 最多5个样品 |
测量范围 | 0.6nm ~ 10μm |
NONGDUFANWEI | 0.00001 ~ 40% *2 |
温度范围 | 0 ~ 90℃ (具备温度梯度功能) *3 |
样品容量 | 矩形样品池:1.2mL~、微量样品池:20μL~ |
尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
重量 | 约18 kg |
软件 | 平均粒径解析 (累积法解析) |
粒度分布解析 | |
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法) LIDUFENBUFUXIE NIXIANGGUANHANSHU·CANCHATU 粒径监测粒径显示范围 (0.1 ~ 106 nm) 分子量计算功能 | |
选配 | 微量样品池(可对应20μL)、荧光滤光片 |
*1 BENSHEBEIJIGUANGDENGJIFUHEJIGUANGANQUANJIZHUN(JIS C6802)DENGJI1。
*2 PS LatexLIZI:0.00001 ~ 10%、NIUHUANGDANSUAN:~40%
*3 LIYONGPILIANGYANGPINCHIJIASHIYONGBOLIYANGPINCHIDEQINGKUANG
SHIYONG5LIANZHUANGYANGPINCHIJIAHUOYICIXINGYANGPINCHIDEQINGKUANG15 ~ 40℃
*4 XUANPEI
型号 | Auto sample AS50 |
测量范围 | 3nm ~ 10μm |
浓度范围 | 0.001 ~ 40% |
温度范围 | 15 ~ 40℃ |
连续测量 | 最多50个样品 |
样品容量 | AS样品池0.4mL~ |
尺寸 | W240 X D480 X H275 mm |
重量 | 12 kg |
CELIANGANLI
LIANXUCELIANGRONGMEIBUTONGDE5GEYANGPIN
氧化铝的粒径评价
使用温度梯度功能进行测量
NIUXUEQINGDANBAI(BSA)LIJINGDEWENDUYICUNXING
对应宽幅粒径范围的测量
【微小粒子】硫胺素0.6nm的粒径测量
【大粒子】乳胶10360nm的粒径测量